ZEISS O-INSPECT 322 蔡司复合式测量机

O-INSPECT332多探头测量系统，测量行程：300mm X 200mm X 200mm ，可称作是四机一体的双测头测量机，提供了非常精确的测量结果，以最佳的重现性，在可以评定是否形状，位置公差范围内和出测量结果报告；O-INSPECT，光学和接触式两种量测可以同在一台测量机，对一个工件在一次设定中，在一个测量程序里同时进行两种量测动作，可广泛应用于电子产品，塑料制品，医疗及汽车零部件产业，精密机械。2007年在德国Control Show备受瞩目的武器。

ZEISS O-INSPECT 特点：

1. 镜头量测系统 : Discovery zoom lens from Carl Zeiss
採用Carl Zeiss镜片，镀层膜高达14层，高解析度，消色差，球面差，複差完全消除。
ZEISS Discovery 12x立体变焦镜头，高度2D光学照相的图像处理功能。
独特的同轴光照明，及8段双色LED环形灯，紅光及蓝光，因波长不一样，可增加對焦精度。

具有远心光学系統(Telecentric)，它的优点如下：

传统镜头看物体会有不同投射角度，因此物体的形状及大小会呈现失真，而不容易精确的找到特点， 不像传统镜头会随距离改变而影像大小改变，使用Telecentric 镜头，不管物体靠近或远离Camera，影像大小维持不变。它能降低放大误差和增加量测景深，适合各种精密量测。
a.焦距动到也不会改变图像的大小(不影响放大倍率)。
b.不会因物体反射率的不同，而使实的〝像〞(灰階)失真，也就是影像零失真。

使用Telecentric远心镜头从相同的视角來观察显示整個物体时，不会像用标准镜头3D特徵出现的透视变形和图像位置错误，即使在物体的深孔，整个视野也清晰可见，在检查3D物体或图像形状和位置要求精确下，使用远心光学镜头Telecentric是目前最有效的选择。
因为Telecentric镜头为了要減少失真，让平行光进入，所以镜头设计必须比较大，所以低倍率镜头通常口径都很大，所需的镜片材料成本较高，所以价格较高。

2. 探针量测系统 :
VAST XXT scanning touch probe :
採用 ZEISS 专利 VAST XXT Direkt TL1扫描式探头系统。
量测方式 :单点或扫描式量测。
量测速度 : 单点量测 up to 2.5 s/point ， 扫描量测 200 point /s。
探针最长可接 : 125mm，侧向可接到 40mm长， 3轴皆可接探针。
採用ZEISS 独家设计专利 VAST-XXT 扫描式电子探头
(在圆直径及圆中心的数据都有些微偏差)。

操作性 Operation
以一种简单又容易了解的原则来操作，即”您看到的是什么，你就量测到什么”：就是电脑荧幕上所看到的，即可以精确地测量。
a.在自动CNC执行中容易切换 接触扫描和光学量测之间的操作 。
b.标准控制摇杆，可手动控制，在CNC操作时可随时调整速度的控制。

软体—
a. CALYPSO 是使用简单，界面图示化的相容3D – CAD界面一套软体
b. 在CALYPSO一个软体上可驱动两种光学及探针测头系统來测量。
c. CALYPSO这套软体具有完全整合光学量测技术与功能，也可用来为另一个接触式量测出测量评定报告评定工件的好坏。
简单来说就是两种测头，两种量测界面(3D and 2D)都包含在CALYPSO 这套软体。

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