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测量产品第10页

雷尼绍 Inspection Plus — 加工中心用增强型工件测量软件

RENISHAW 关于Inspection Plus Inspection Plus增强型工件测量软件是宏程序综合软件包，包括矢量和角度测量选项、打印选项（取决于控制器）和范围广泛的循环程序..

雷尼绍 TRS2快速非接触式刀具破损检测系统

RENISHAW 关于TRS2 新型TRS2系统是性价比优异的刀具破损检测系统。其所采用的ToolWise™电子装置使小型、黑色刀具的检测更可靠，节省了时间和成本。系统采用独..

雷尼绍Productivity+ Active Editor Pro

RENISHAW 最新功能 Productivity+ 2.0版本在先前版本提供的全面功能的基础上又新增了多种功能，包括： •高级测圆 — 使用用户定义的触发点数检测内孔/外圆特征..

雷尼绍QuantAM加工文件准备软件

renishaw 雷尼绍增材制造 (AM) 系统专用的文件准备软件工具。它提供直观的操作流程和方便的浏览功能，可接受.STL数据格式的CAD导出，帮助您为增材制造过程准备..

雷尼绍 GoProbe使测头测量简单易行

RENISHAW GoProbe包括工件找正、对刀和测头设定循环。每一个循环与机床测头测量常用的特征或功能对应，包含一个简单的单行命令。单行命令易学易用，降低了手动..

雷尼绍 RLP40全新超小型车床工件检测测头

RENISHAW 提供无线电或光学信号传输技术，使车削中心的工件找正和工件检测精确、简单而可靠。测头直径仅为 40 mm ，长度为 58.3 mm ，具有 1µm 的单向重复性，可..

雷尼绍新品 • XM-60多束激光干涉仪

renishaw XM-60是一款激光测量系统，只需一次设定即可沿线性轴同时测量6个自由度的误差。它具有强大的诊断工具，通过一次采集就可以测量轴的所有几何误差。对于..

蔡司 ZEISS colin3D 测量软件

光学 3D 探头系统软件 ZEISS colin3D ZEISS colin3D 主要性能概述可与 Carl Zeiss 光电技术有限公司的光学 3D 探头系统完美搭配快速产生三角网格提供报告的表..

蔡司 ZEISS CALIGO 软件

自由曲面的专家 ZEISS CALIGO 检测自由曲面时，需要大量的测量点。 ZEISS CALIGO 的软件结构是针对这种测量目的而设计的。 ZEISS CALIGO 主要性能概述适用于车..

蔡司 ZEISS CALYPSO 软件

规则几何形状的参考 ZEISS CALYPSO 用户借由 ZEISS CALYPSO 可轻松、快速又可靠地测量规则几何形状。只需在所需的特征上单击鼠标，就能进行编程。 ZEISS CALYPS..

蔡司 ZEISS HOLOS 测量软件

精准捕捉自由曲面用于自由曲面和其他应用的完整解决方案 HOLOS是一个用于测量自由曲面的模块化软件包。HOLOS Geo和HOLOS Digitize模块可用于检测规则几何要素和..

蔡司 ZEISS iDA 测量软件

测量程序自动化 ZEISS iDA 软件 ZEISS iDA 主要性能概述由于采用 DMIS 格式，其运行不受汽车制造商的限制高度自动化兼容所有主要汽车生产厂家的测量方案格式 ..

蔡司 ZEISS Master Control Center 测量软件

通过内联网管理三坐标测量技术 ZEISS Master Control Center ZEISS Master Control Center 主要性能概述 • 测量机、软件、报告和其他文件的中央管理系统 • 三..

蔡司 ZEISS Reverse Engineering 测量软件

回到 CAD 模型 ZEISS Reverse Engineering 通过高精度和高品质的表面重建、对点云数据的有效处理、专为自动化刀具校正而设计的功能，以及测量和数字化软件的完全..

蔡司 ZEISS ABIS 接触和光学式探头

ABIS - 光学表面检测客观和有效的质量控制在汽车制造业,产品表面质量状况是用户评判整车质量的重要指标之一. 在喷漆的前道环节:如冲压车间或组装车间,因不可避..

蔡司 ZEISS ROTOS 接触和光学式探头

ZEISS ROTOS 测量粗糙度特性的测头系统单独一台机器自动测量尺寸、形状/位置和粗糙度：创造更高的生产力和单一的纪录坐标测量机（CMM）将不仅可满足尺寸、形位..

蔡司 ZEISS DotScan 接触和光学式探头

测量无死角 ZEISS DotScan 色阶共聚焦白色传感器可对工件进行非接触式扫描，这种探头通常用于测量敏感、具反射性或低对比度的表面，这类表面难以使用其他光学探..

蔡司 ZEISS ViScan 接触和光学式探头

ViScan 专业二维测量如今测试件的复杂度如此之高，单单使用接触或光学式探头已经无法满足需求。通过采用ViSCAN二维光学探头，您可以在一台机器上同时实现接触和..

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蔡司 ZEISS 官方网站蔡司 ZEISS 产品一览蔡司 ZEISS 应用案例

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