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光学坐标三维测量系统:MAXSHOT 3D
形创  光学坐标三维测量系统:MAXSHOT 3D09-27
形创.中国 形创 creaform 对于大型项目和对 2 - 10 米零部件测量精度与重复性有较高要求开发、制造、质量控制检测团队来说,Creaform MaxSHOT 3D 系列产品十分适
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形创 R-Series自动化质量控制解决方案
  形创 R-Series自动化质量控制解决方案09-27
形创.中国 形创 creaform 自动化质量控制的 3D 扫描解决方案:快速且精确 更快发现质量问题并做出更好的决策 R-Series™ 3D 扫描解决方案专为自动化质量控
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VXmodel: 扫描至 CAD 后处理软件
形创  VXmodel: 扫描至 CAD 后处理软件09-27
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API VEC大型机床空间误差补偿技术
  API VEC大型机床空间误差补偿技术09-27
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API SFIS智能工厂测量解决方案
  API SFIS智能工厂测量解决方案09-27
美国自动精密工程公司 API 4028812804e1b8380104e1f8ff7e3b3d SFIS智能工厂测量解决方案兼顾了激光跟踪仪的精准与3D扫描仪的高效,在保障测量精度的同时,大幅提
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API vProbe智能测头
  API vProbe智能测头09-27
美国自动精密工程公司 API API vProbe – 无线智能测头 超高精度、无线连接、轻量化设计、易于掌控、功能强大 vProbe无线智能测头可与Radian Plus和Radian P
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ZEISS NEO pixel测量软件
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蔡司Xradia Context microCT
  蔡司Xradia Context microCT09-14
卡尔蔡司(上海)管理有限公司 蔡司 蔡司Xradia Context microCT X-ray系统为您的未来保驾护航 蔡司Xradia Context是一款大视场、非破坏性3D X射线微米计算机
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ZEISS PiWeb 软件
蔡司  ZEISS PiWeb 软件09-14
卡尔蔡司(上海)管理有限公司 蔡司 完美掌控所有的重要数据 无论在什么地方。 ZEISS PiWeb ZEISS PiWeb 是具扩展性的质量数据管理 IT 解决方案。 用户可
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蔡司 纳米级和关联颗粒度分析
  蔡司 纳米级和关联颗粒度分析09-14
卡尔蔡司(上海)管理有限公司 蔡司 量身定制的颗粒度分析解决方案 按需配置系统 快速的纳米级、化学成份和关联颗粒度分析 光学显微镜图像 对零配件和
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蔡司 Smartproof 5
  蔡司 Smartproof 509-14
卡尔蔡司(上海)管理有限公司 蔡司 蔡司 Smartproof 5 快速转盘共聚焦显微镜——用于质量保证和控制的表面分析 蔡司的多功能 Smartproof 5 快速转盘共聚焦显
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蔡司COMET
  蔡司COMET09-14
卡尔蔡司(上海)管理有限公司 蔡司 带蓝色LED条纹投影的3D扫描 蔡司COMET 用于简单快速的测量 超紧凑型3D探头蔡司COMET具有极佳的灵活性,高测量速度和出
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蔡司 用于材料研究的 Axio Observer
  蔡司 用于材料研究的 Axio Observer09-14
卡尔蔡司(上海)管理有限公司 蔡司 Axio Observer 用于材料研究的倒置显微镜 用于材料检验、开发和分析的倒置显微镜 利用倒置显微镜 Axio Observer 快速
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ZEISS METROTOM(CT)
蔡司  ZEISS METROTOM(CT)09-11
卡尔蔡司(上海)管理有限公司 蔡司 基于 ZEISS METROTOM 的工业计算机断层扫描(CT) 利用蔡司的工业计算机断层扫描系统,仅需一次 X 射线扫描,即可顺利完成
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ZEISS VoluMax
蔡司  ZEISS VoluMax09-11
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