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卡尔.蔡司将在CIMES展示测量技术

【编者按】卡尔.蔡司在CIMES2014第十二届中国国际机床工具展览会上展示顶级的测量技术。一共推出一下三款新品。


企业名称:卡尔蔡司(上海)管理有限公司

CIMES2014 展位号:W1-B105

Contura G2

一机多用的大众型扫描平台

Contura G2 RDS 和 Contura G2 Active,由基础机型升级到更灵活更高精度的机型,采用主动扫描技术,物超所值,非常适合中小型生产企业。Contura G2 RDS 配置 VAST XXT 扫描探头,可自由、快速旋转探针,扫描范围达到任何的角度位置。Contura G2 Active 具有自定心功能,可测量深孔元素,具有对尺寸、形状及位置的高可靠性测量。VAST的扫描技术使工件的形状检验可以最快的速度获得高品质测量结果,可及早发现加工过程中的变化,确保产品质量并将废品率降至最低。集成Navigator技术的VAST万能扫描探头能高速高精度测量单点及多点,在测量时间降低的同时可以高密度处理数据。由蔡司研发制造的玻璃陶瓷光栅尺,具有良好的温度稳定性,保证测量结果不受温度波动的影响。Contura G2 是一款性价比极高的大众型一机多用扫描平台,可为用户获得高速扫描所带来的高收益。

DuraMax

高精度宽温带车间型扫描测量机

DuraMax综合了蔡司顶级测量技术,在放宽温度、湿度、气源、地基条件要求的同时实现高精度的测量要求,是一款适用于现代工厂和实验室的真正的通用型三坐标测量机。即使在30℃时,也完全可以正常工作。稳定的高精度测量性能,更使得其可扩展到齿轮测量领域的应用,满足齿轮测量的各种需求。DuraMax取代了固定检具、量具等手工检测仪器,更加经济,灵活性高,更容易适应快速变化的市场。秉承了蔡司领先的测量技术和经验,集先进的ZEISS C99控制柜技术、VAST XXT 扫描探头和强大的CALYPSO测量软件为一体的DuraMax无疑是一款成熟和值得依赖的产品。DuraMax设计紧凑、操作简易、安装和测试方便,可轻松驾驭。同时蔡司提供一站式的售后服务,提供全面的系统解决方案和来自全球专家支持,使用者体验测量可以如此简单的乐趣,享受小投资大收益的超值服务。

O-INSPECT

测量技术与光学技术的绝佳组合

O-INSPECT 多功能复合式扫描测量中心融合了德国卡尔-蔡司绝佳的光学及测量技术。卡尔-蔡司167年的光学技术及工业测量专家级经验造就了O-INSPECT独到的产品特色,配备高精度接触式三维连续扫描测头系统及顶级光学传感器系统,集投影仪、显微镜、轮廓仪及三坐标测量机的优势及功能于一体,更有效缩短测量链及降低各类误差,配合蔡司扫描控制系统及PTB认证的CALYPSO专业测量平台,绝佳的测量精度及长期可靠性为大批量与高精度测量要求提供了绝佳解决方案,为测量各类中小型零部件的理想之选。

扩展阅读:蔡司O-INSPECT复合测量机技术与应用专题


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