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Pinnacle高精度,非接触测量系统


高精度,非接触测量系统

·U2(XY平面)=(1.5+L/250)μm
·分辨率 0.1μm (0.025μm作为选配)
·高速马达 400 MM/sec
·双套不同倍率光学系统
·Windows 2000操作系统
·自定义客户界面
·多元传感,影像系统和激光系统
·具有专利权的可编程的环光(PRL)
·独有的边缘寻边的算法程序

仪器 PINNACLE 参数指标:
测量范围

250×165×100 MM

分辨率
0.1μm (0.025μm作为选配)
马达驱动系统
线性马达(XY),Z轴DC伺服马达
速度
400 MM/sec
载重
25㎏
光学系统
标配:单倍固定倍率光学系统,1倍-2倍(30倍-550倍屏幕显示放大倍率)
选配:两种固定倍率光学系统1-100倍(屏幕显示3580倍)
光源系统
标配:LED背光,多种颜色的同轴正光
选配:具有专利的可编程的环光
影像处理
用户可根据自己需要去除毛边,边缘寻边器,快速寻边器,自动聚焦,及可供选配的具有专利栅格投影系统,区域寻中心功能,灯炮寿命测试
软件
多种座标系统,智能化搜索和建立座标系统,功能强大编程功能,包括数学计算,变量名定义,循环分流等。多种不同CAD文本输入。
图象处理传感器

高分辨率数字化B&WCCD照相机 765×576象素。

计算机
Intel奔腾4处理器Windows 2000操作系统
电源
自动转换100-240V 50/60HZ
环境
17~33℃ 20~80%湿度
重量 500㎏
外观尺寸 795×953×1750 MM
工作站 标配:17″SVGA显示器,操作标,鼠标,键盘
选配:15″LCD显示器,操作杆,鼠标,键盘
精度 U2(XY平面)=(1.5+L/250)μm
U1(Z轴)=(1.5+L/50)μm
L:测量长度单位 MM

 


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