多探头测量机新闻

随着微处理器等功能的应用，过去相对较大的多探头测量设备，现在变成了小型的台式多探头测量系统。多探头测量系统是由过去用于影像检验的台式测量系统装备触发式探头和激光探头形成的。

光学测量测头测量

一场牵动全中国人民的技能大赛正在北京如火如荼的进行中——2016年中国技能大赛—第七届全国数控技能大赛决赛。决赛项目涵盖数控车工、数控铣工、加工中心操作工（四轴）、加工中心操作工（五轴）、数控机床装调维修工。决赛的实操之战已于11月9日正式拉开序幕，并将于1..

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制造业在过去40年里发生了巨大的变化，Jamco航空航天公司对这些变化深有体会，他们意识到将先进的质量检测设备引入其制造工艺过程中对保持公司竞争力是多么的重要。因此，Jamco引进了蔡司工业测量的两台扫描式三坐标测量仪，用以确保制造过程中每个步骤的精确性。

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光学测量测头测量

复合式测量机确保测量的高度柔性化。 ZEISS O-INSPECT系列产品正以超人意料的方式发展：现在我们可为用户提供多种尺寸、承重能力与可选接触式测头的复合式测量机。产品动态性能更好并可选配共聚焦白光测头（CFS）。

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蔡司O-INSPECT 复合测量机光学测量测头测量机械

可满足制造业对于尺寸与扫描精度、尺寸测量及形位公差评定的广泛要求。采用独特的复合式扫描平台，支持从二维视像到复杂三维特征或三维工件量测，整体量测重复性极佳。除了满足实验室的精密量测应用， O-INSPECT 543亦可用于车间的批量化在线检测。

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蔡司O-INSPECT 三坐标光学测量测头测量机械

随着工业的发展，我们对我们的产品质量要求越来越高，无论在项目前期对产品全尺寸的管控还是在生产过程中的重要尺寸管控，我们是否做到对自己的产品真正的了解，知道到底应该怎么去测量它！

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复合测量机三坐标光学测量测头测量机械