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芬诺LP 30高性能激光干涉仪

  FEANOR LP 30 Compact是全球最畅销的用于长度计量的激光干涉仪,其最大的优点是所有测量功能均采用激光干涉原理,性能稳定,使用可靠,功能扩展性强,价格适中.

  LP 30 高性能激光干涉仪是机床三坐标测量机 (CMM) 及其它定位装置精度校准用的高性能仪器。由于采用了独特的专利设计及最新的光电子技术,使LP 30 激光干涉仪比市场上其它型号的激光干涉仪具有更高的性能和更先进的任选功能。除了测量和分析诊断功能外,此软件包的标准配置还包括动态测量、旋转轴测量、双轴测量和电子水平仪及千分表程序接口模块。该激光干涉仪系统由激光头LP 30 Compact、环境监测补偿器,计算机接口卡及高精度的光学器件组成。全部器件放在一个配小车的提箱内,一人便可携带全部系统赴异地进行机器精度检定,大大改善了激光干涉仪的便携性。该 激光干涉仪系统通过接口与IBM 兼容的PC 机连接,在灵活、直观的软件控制下进行自动测量,既节省了测量时间,又避免了人为误差,并能按国际上通行的标准进行数据分析处理,如 PN - 93 M55580, ISO/DIS 230, PN - 93 M55580 , ISO 230-2 , NMTBA , VDI/DGQ 3441,BSI BS 4656 Part 16,ISO230-2,等并适用中国国家标准GB17421-2000等,以便于按不同标准进行机床精度的评定和比较。

 


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