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CALYPSO中实现复合位置度的测量
位置度，一直是公众号粉丝留言问询的高频词。
本文针对CALYPSO软件的复合位置度进行介绍，包括：
独立位置度公差和复合位置度公差
CALYPSO中实现复合位置度的测量
独立位置度公差和复合位置度公差
独立位置度公差：
在独立公差中，被测元素相对于A，B基准，确立了被测元素的方向和位置。上下两个框体应该单独的进行分析，且下框体仅相对于AB基准进行分析。
复合位置度公差：
如上图，左图为复合位置度的典型标注。在复合公差中，这里只有一个基准A仅确立了被测元素相对于基准元素的确切方向。
CALYPSO中实现复合位置度的测量举例
该工件定义了3 个孔，阵列孔相对于ABC 基准，公差为1.2mm; 阵列孔相对于A 基准，公差为0.1mm。
三种不同类型的位置度公差如图所示：
从 a 至 c 插图，都指明了三种位置度的公差区域：上框体中的位置度都是一样的，相对于 ABC 基准，三个阵列孔的中心都必须 位于直径为 1.2mm 的公差区域之中。
对于下框体中的位置度则有三种表达方式：
如 a 图所示：孔阵列整体旋转和平移
如 b 图所示：0.1mm 直径的平行公差带中心必须平行于 B 基准
如 c 图所示：（独立公差）0.1mm 直径的平行公差带中心必须位于相对于 B 基准的30mm 理论位置处，且平行于 B 基准，在 0.1mm 公差区域内移动。只能在 C 基准方向进行移动
对于这三种位置度，无论是复合位置度还是独立位置度，在CALYPSO中，每个位置度都必须建立两个位置度特性 每个位置特性都必须使用孔阵列※佳拟合：
a 插图中下框体的位置度：
由于A 基准只控制了一个方向，所以※佳拟合既可以旋转，也可以平移。
b 插图中下框体的位置度：
由于B 基准控制了方向，拟合时，只能沿 X，Y 方向进行平移，并且公差区域中心必须平行于 B 基准
c 插图中下框体的位置度：
对于独立公差，只允许沿着X方向平移，并且三个公差带中心位置必须平行位于相对于B基准30mm的理论位置处。
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（蔡司工业质量解决方案）
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