蔡司光学显微镜:如何一次扫描识别颗粒污染物?

国际金属加工网 2021年07月22日

由于污染导致设备停机时间变长,并导致系统的使用寿命降低,固体颗粒污染耐受性的降低速率也在增加,这种情况不仅仅发生在汽车行业医疗航空航天增材制造等领域也面临着挑战。

因此,根据VDI第19.1部分或国际标准ISO 16232 检查微粒清洁度已成为质量管理的固定组成部分。

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污染物通常源于外壳、泵、阀门或管道内部。从样品中提取颗粒后,过滤整个提取介质,并将颗粒沉积在分析滤膜上,在光学显微镜下检查滤膜,以量化颗粒污染物。如果发现了临界水平的颗粒,通常在电子显微镜下进行分析,以确定元素组成,从而找到污染的根本原因。

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无缝集成工作流程中光学显微镜和电子显微镜的相关分析

加快技术清洁度的颗粒分析过程

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获取结果,仅需三步

1.选择您的工作流程并开始分析您的样本

2.选择合适的 VDA/ISO 标准或选择您公司的标准

3.获取全面的结果并连接ZEN数据存储用于数据管理

提高工作效率

蔡司一次扫描技术

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快速可靠的信息

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软件视图

颗粒尺寸及成分一目了然

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(蔡司工业质量解决方案 )

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