蔡司测量学院 | 形位公差及测量策略
坐标测量技术（Coordinate Measuring Machine，CMM）是产品几何质量数字化过程控制的关键技术，属于产品几何技术规范（Geometrical Product Specifications，GPS)和ASME GD&T标准及应用中的一个重要组成部分，在数字化制造的今天已得到了越来越广泛的应用，成为产品几何质量控制系统中不可或缺的高端技术。
然而，坐标测量技术在实际应用中会遇上诸多问题，今天我们整理了几个热点问题，希望对大家在新一年的工作有所帮助。
| 课程序号 | 课程内容 | 视频时间 |
| 测量原理1 | 滤波原理 | 01:54 |
| 测量原理2 | 测量策略 | 15:14 |
| 测量原理3 | 直线度 | 23:43 |
| 测量原理4 | 垂直度 | 26:48 |
| 测量原理5 | 复合位置度 | 30:59 |
| 测量原理6 | 最大实体 | 38:30 |
| 测量原理7 | 轮廓度 | 41:50 |
| 测量原理8 | 形位公差标准解读 | 45:45 |
（蔡司工业质量解决方案）
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