基恩士推出集显微镜•SEM•粗糙度仪的功能于一身的VK-X100/X200 系列激光显微系统

        3月27日，工业自动化领域，销售传感器、测量仪器、显微系统以及逻辑控制系统的供应商，日本知名企业基恩士在北京召开了媒体见面会。会上指出将加强在中国市场「形状测量激光显微系统　VK-X100/X200 系列」的销售。VK-X100/X200 系列1台机器便可以实现无与伦比的高分辨率大范围形状测量。

        「形状测量激光显微系统　VK-X100/X200 系列」的特点如下；

        •高分辨率，大景深观察
        (1) 高分辨率， 最大放大24000 倍
        (2) 完全聚焦的清晰图像
        (3) 符合溯源性要求

        •仿佛彩色 SEM
        (1) 16 bit 激光彩色观察
        (2) 放置并且测量，您可以在几秒钟内进行分析
        (3) 可拆卸测量头单元允许各种尺寸的样品测量。可拆卸测量头单元可以与其他设备整合并支持远程操作。

        •无损轮廓和粗糙度测量
        (1) 非接触式设计，可用于测量软质的工件
        (2) 方便定位测量区域
        (3) 激光光束波长比表面粗糙度测量直径小

        〈相关资料下载〉
        (暂不可见)/products/microscope/microscope/vkx100_200/vkx100_200.php

声明：本网站所收集的部分公开资料来源于互联网，转载的目的在于传递更多信息及用于网络分享，并不代表本站赞同其观点和对其真实性负责，也不构成任何其他建议。本站部分作品是由网友自主投稿和发布、编辑整理上传，对此类作品本站仅提供交流平台，不为其版权负责。如果您发现网站上所用视频、图片、文字如涉及作品版权问题，请第一时间告知，我们将根据您提供的证明材料确认版权并按国家标准支付稿酬或立即删除内容，以保证您的权益！联系电话：010-58612588 或 Email:editor@mmsonline.com.cn。