芬诺推出激光干涉仪代表机床及坐标测量机LN 10 - LP 30
现代工业需要满足日益严格的公差以及国际质量标准的要求，因此生产设备的工作性能受到前所未有的重视。为满足这一需求，芬诺研究发展公司推出了可以评估、监控并改善机器性能的两激光干涉测量系统，从而提高了生产力，缩短了停机时间，并使废品率降至最低.
第一: LN 10 - 长度的准确尺寸的激光干涉仪
LN 10 能被用以提升或使现有的更旧测量用的系统现代化.它能以很高准确率测量距离直到30米.基本系统包含 WindowsTM 软件、自动补偿（空气温度、大气压力及材料热膨胀补偿）及相关配件组成，
价格合理，系统简单，仅需小型便携箱即可携带。
第二: LP 30 - 激光干涉仪干涉仪代表机床及坐标测量机 (CMM) 校准之最高水准，并且机床线性、角度、直线度、平面度和垂直度校验系统 LP 30 符合以下的标准:
PN - 93 M55580, ISO/DIS 230, PN - 93 M55580 , ISO 230-2 , NMTBA , VDI/DGQ 3441, BSI BS 4656 Part 16.
激光干涉仪测量系统是迄今对机床、坐标测量机及其他位置精度至关重要的系统进行全面精度评估的最佳工具。
这台激光干涉仪有许多应用。
典型应用: 传统的机床精度校正, CNC机床精度校正与补偿, 第四轴的校正与补偿, 标准长度的测量,例如块规…,花岗石平台的校正, 光学平台精度检验, PCB钻孔机精度校正与补偿, 三坐标空间精度校正…, 半导体业机台校正
典型顾客: 学术研究单位, 制造厂厂内自校, 检校单位, 航空业, 自动化设备生产业
基本规格:
| 被测量的参数 | 线性测量范围 | 线性测量分辨率 | 准确率 |
| 长度的尺寸 | 0 - 30 m | 1 nm (0,001 µm) | 0,15 µm/m |
| 最高测量速度 | 0 - 0,3 m/s | 3 µm/s | 0,1 % |
| 角度的尺寸 | 0 - 3600 arcsec | 0,6 arcsec | ± 0,2 % |
| 线性的尺寸 | 0 - 3 m | 0,1 µm | ± 1 % |
| 表面的尺寸 | 0 - 3 m | 0,15 µm m/100mm | ± 0, 5 % |
如果你想要信息，请与建立联络: Luca Bochese 卢卡13717978084；
电子邮件：info@(暂不可见)
传真 +3902700532664, skype feanorou
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