ZEISS T-SCAN 3D数字化 / 激光扫描 手持式激光扫描仪的直观数据捕获

国际金属加工网 2018年02月05日

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创新的激光扫描完整解决方案以全新的面貌再次增强了 本来所具有的高性能、用户友好和灵活性

由于手持式激光扫描仪ZEISS T-SCAN CS的应用,使得快速、直观和高度精确的3D扫描在坐标 测量技术中进入全新的高度。全面革新且一体化的设计理念,包括完美匹配的辅助装置(跟踪 仪、手持式扫描仪和接触式测头),为种类繁多的应用提供了最大的灵活性,高性能的软件平 台colin3D能够在整个测量过程中,始终如一地保持高效并始终坚持以项目为导向的操作过程。

面向用户的、人性化的系统设计和易于操作的高效数据采集

ZEISS T-SCAN激光扫描仪的设计完全符合人体工学原理。 可根据操作者的需求量身定制,保证了扫描过程直观、无疲 劳感。由于配备了重量轻、结构紧凑的测头,该系统非常适 合于数据捕获,即使最难以到达的区域也不例外。 优秀的技术特性,例如,针对各种对象的表面进行高动态范 围内的数据采集,而其所具有的迄今不可见的数据速率可以 达到无可比拟的扫描速度并得到精确的测量结果。

手持式测头进行快速点测量

ZEISS T-POINT接触测头快速可靠地测量所选择的测量 点,使其成为在物体区域内进行单点测量的完美解决方 案,如(修剪)边缘和规则的几何形状。 该装置可与传统的测头一起使用,测头更换更加简单、快 速。

动态参考

即使在移动的物体上也能得到高精密的三维数据记录, 通过采用动态参考功能,在恶劣的环境条件下可以独立 执行测量工作,如振动(生产环境中,例如冲压车间或 加工部件:对移动车门的密封进行测量)。

通用软件接口

从数据采集到数据处理,至数据比较 - ZEISS T-SCAN 系统可以通过众多直接的实时接口进行控制。因此,可 以轻松集成到现有的工艺流程中。

用于不同的测量体积的光学跟踪系统

从小型到大型的物体 - 系统配置“CS+”和“LV”,为您的个人 测量应用提供理想解决方案。

ZEISS T- TRACK CS+“plus”体现的灵活性

ZEISS T-TRACK CS +光学跟踪系统与所有其他系统组件进 行优化匹配,因此开辟了广泛的测量应用领域。 极高的数据处理速率使测量具有最高的速度,有利于最大 限度地减少物体扫描过程的时间。

ZEISS T-TRACK LV大范围跟踪仪

通过采用创新型扫描和跟踪相结合的独特大范围测量,您 将在光学三维数字化中获得全新的视角。 现在您可以更快、更容易地记录大型物体的3D数据 - 手持 式激光扫描仪的高扫描速度和高达35立方米的跟踪范围, 为您进行有效的测量处理提供最大可能的运动自由。

应用范围广泛

• 质量控制/检验   - 比较CAD数据   - 边界/边缘提取(钣金件)   - 与生产有关的检查

 • 模具和模具制造   - 刀具重建   - 用于生成铣削刀具路径的扫描数据   - 刀具释放时的实际3D数据文档   - 复杂焊接结构的检验   - 设置仪表和安装夹具

• 快速制造   - 三维数据扫描用于快速成型

 • 逆向工程   - 高度复杂几何形状测量的逆向工程

 • 设计   - 设计模型的扫描,用于进一步处理CAD数据、文档   - 特征线的捕获   - 基面(对齐)的快速扫描

 • 复杂组件的动态捕获,例如装夹过程

 •考古学、艺术/历史文物的扫描

医疗技术应用(动作捕捉等)



 

(ZEISS )

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