雷尼绍:有“难度”的电子产品检测,谁来“承包”检测的稳定发挥?

国际金属加工网 2017年10月13日

可知?如今生活中充斥着各种电子产品,它们设计精巧且功能强大,高密度电路板线路之间仅有数微米的距离通过肉眼无法检测是否出现短路、断路等问题,必须依靠精密的AOI设备进行检测。

AOI(自动光学检测)设备被广泛应用于半导体制程、电路板组装、显示面板制程、LED以及各种工业自动化等工业领域。台湾厂商开发的AOI设备无论在性能还是稳定性方面在业界都具有相当强的竞争实力。

台湾捷智科技股份有限公司(JET),多年来为业界提供先进的自动光学检测方案,他们最新开发的用于SMT(表面贴片技术)生产线的AOI检测设备采用雷尼绍ATOM™系列超微型光栅来确保系统性能的稳定性。

AOI 工作原理 AOI 设备主要部分包括:光源、取像系统、机电及运动控制系统和图像处理分析软件等。主要是利用CCD摄像头采集被测对象影像,将图像识别法与实际参考图像进行比对,经过复杂的演算和分析来识别检测组件是否合格。当今电子产品日益趋向精密微型化,在运动控制技术层面上,光栅的分辨率或速度必须满足设备的要求方能确保设备在短时间内完成检测工作。

JET公司AOI部门经理吴晓晖博士介绍ATOM光栅在新款AOI设备上的应用时说:“这款AOI设备的结构属于龙门架式,Y轴(横向)以线性马达驱动固定在Y轴(横向)的CCD摄像头上,行程约为600-800mm。位置反馈系统采用ATOM 40 µm栅距光栅,通过ATOM RI接口输出1 µm分辨率的数字反馈信号,X轴(纵向)则以滚珠螺杆驱动,检测进行时摄像头在每隔6 µm的移动距离(纵向)上,以横向方式扫描被测对象,最终合成完整图像。 ”

JET高性能AOI设备RGH光栅系列在AOI设备上的应用

摄像头在移动时的平稳流畅度能够确保系统所采集图像的完整性,光栅的细分误差 (SDE) 对摄像头移动的流畅度有着决定性影响。ATOM系列光栅的细分误差低至±75 nm, 足以满足绝大部分中高端扫描应用。

读数头精巧 灵活性高

JET目前所生产的AOI设备的扫描和空载移动速度分别达300 mm/s和600 mm/s,检测的重复精度为 ±5 µm。吴博士说:“当初开发新机台时适逢ATOM光栅系列的推出,印象最深的是该读数头结合了微型设计和高端规格,节省占用空间且性能得以提升。我们采用该光栅,到目前为止ATOM的性能依然十分稳定。”ATOM读数头最小尺寸仅为6.7 x 12.5 x 20.5 mm,通过外接细分接口盒进行信号细分,这种分离式设计不但实现了读数头的微型化,而且增加了JET在设备设计上的灵活度。吴博士继说:“分离式接口设计允许我们在组装追加设备订单或更新系统时有更大的灵活性,譬如说在更新时仅需更换接口盒,从而提升系统分辨率而无需作对机械部分进行任何修改。”

人性化设计 稳定可靠

JET十多年来一直在使用雷尼绍光栅,包括增量式RGH 22、RGH41和 RGH45系列。ATOM是目前雷尼绍所有光栅产品中体积最小的系列。吴博士说:“ATOM 的安装简单便利,通过安装LED了解系统当前状况,不需要其他繁琐仪器的辅助。另外,ATOM光栅的抗污性能有进一步的提升。颗粒粉尘这一类污染物一旦累积到一定程度会妨碍光栅的性能。ATOM对这一类污染物的抵抗力更强,也允许使用酒精等一般清洁剂进行维护。

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