ZEISS三维扫描 | 探索测量的无限可能

国际金属加工网 2017年08月01日

在光学领域中,尤其是三维扫描方面,蔡司基于蓝光LED的COMET LƎD条纹投影测头,可为您提供卓越的测量解决方案。通过捕捉整个测量物件的表面信息,使操作员对被扫描的产品有更为清晰全面的认识。除此之外,针对类泡沫物体等可变性材料所设计的非接触式解决方案,可以更为高效地检测复杂的曲面。

点击下方链接,获取最新三维扫描技术白皮书,同时获取前沿的工业测量技术信息。链接:http://www.mmsonline.com.cn/advclick.jsp?advid=AD0000000017169&url=0a3143f1a999245c82ac52b16e28801375178cd98c49837f 



(ZEISS)

网友评论
欧特克

编辑推荐

相关主题